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4000A功率器件靜態(tài)參數測試系統集多種測量和分析功能一體，可精準測量功率器件（MOSFET、BJT、IGBT等）的靜態(tài)參數，電壓可高達3KV,電流可高達4KA。該系統可測量不同封裝類(lèi)型的功率器件的靜態(tài)參數，具有高電壓和大電流特性，uΩ級電阻，pA級電流精準測量等特點(diǎn)。支持高壓模式下測量功率器件結電容，如輸入電容，輸出電容、反向傳輸電容等。詳詢(xún)一八一四零六六三四七六
普賽斯以自主研發(fā)為導向，深耕半導體測試領(lǐng)域，在I-V測試上積累了豐富的經(jīng)驗，先后推出了直流源表，脈沖源表、高電流脈沖源表、高電壓源測單元等測試設備，廣泛應用于高校研究所、實(shí)驗室，新能源，光伏，風(fēng)電，軌交，變頻器等場(chǎng)景。
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產(chǎn)品特點(diǎn)
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高電壓：支持高達3KV高電壓測試；
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大電流：支持高達4KA大電流測試；
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高精度：支持uΩ級電阻、pA級電流、uV級精準測量；
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豐富模板：內置豐富的測試模板，方便用戶(hù)快速配置測試參數；
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配置導出：支持一鍵導出參數配置及一鍵啟動(dòng)測試功能；
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數據預覽及導出：支持圖形界面以及表格展示測試結果，亦可一鍵導出；
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模塊化設計：內部采用模塊化結構設計，可自由配置，方便維護；
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可拓展：支持拓展溫控功能，方便監控系統運行溫度；
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可定制開(kāi)發(fā)：可根據用戶(hù)測試場(chǎng)景定制化開(kāi)發(fā)；
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技術(shù)指標
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PMST系統配置 |
關(guān)鍵參數 |
備注 |
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P系列 |
PW高達30V/10A、300V/1A |
柵極特性測試 |
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CW高達300V/0.1A、30V/1A |
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最小脈沖寬度200uS |
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HCP系列 |
PW高達30V/100A |
IGBT導通壓降、二極管瞬時(shí)前向電壓測試 |
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CW高達10V/30A |
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最小分辨率30uV/10pA |
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最小脈沖寬度80uS |
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HCPL系列 |
單臺PW高達12V/1000A，可多臺并聯(lián) |
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最小脈沖寬度50uS |
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E系列 |
CW高達3000V/100mA |
IGBT擊穿電壓測試 |
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最小分辨率10mV/100pA |
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測量精度 0.1% |
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電橋 |
頻率范圍：20Hz~1MHz |
IGBT各級間電壓測試 |
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HVP系列提供0~400V直流偏置電壓 |
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預置偏置電阻100kΩ |
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矩陣開(kāi)關(guān) |
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電路切換及源表切換 |
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主機 |
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測試夾具 |
根據器件封裝形式定制 |
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產(chǎn)品應用
功率器件如二極管、三極管、MOS管、IGBT、SIC、GaN；
